恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備.采用進(jìn)口溫濕度控制器,箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型,造型美觀大方,操作簡(jiǎn)便.箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼鏡面板,外膽采用A3鋼板噴塑,增加了外觀質(zhì)感和潔凈度.試驗(yàn)箱底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪.

恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：

恒溫恒濕試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求:

1.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB2423.1-89(IEC68-2-1)

2.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-89(IEC68-2-2)

3.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.3-93(IEC68-2-3)

4.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)

恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿(mǎn)足的標(biāo)準(zhǔn)：

1.GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法

2.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法

3.GJB150.9-1986《環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》

4.GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》

5.GJB367.2-1987《通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411濕熱試驗(yàn)

6.GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》

7.GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

8.GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

9.GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)

10.GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》

11.GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》